元素分析测试组
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波长色散X射线荧光光谱仪
联系人: 段太成
联系电话: 0431-85262348; 13596046496
邮箱: tcduan@ciac.ac.cn
职称: 研究员,博士生导师
专业: 分析化学
学历: 博士
从业时间: 从事原子光/质谱及离子色一线测试及相关研究20余年,发表相关论文50余篇,承担各类课题数十项。
仪器介绍

元素分析范围:C-U准直器:0.15mm(用于高分辨率),0.30mm(用于常规分析);准直器面罩转换器:6mm30mm37mm测角仪:角度再现精度0.0001θ/2θ闪烁探测器:8–104 2θ,在<1%线性范围内最大计数1500kcps流气探测器:13–148 2θ,在<1%线性范围内最大计数3000kcps; X光管:最大功率4200W,最大电压60KV,最大电流120mA,自带高精度半定量分析软件及液态样品杯,元素检测范围从ppm∽100%


应用范围

1.  环境、地质、冶金、农业、材料、化工、建材等领域固体样品主成份精确定量或快速定性、半定量分析。

2.金属或材料镀层厚度分析。
3. 材料无损表面元素分析或材料表面元素分布成像分析。
4. 有机/无机液态样品(比如汽油中硫元素、原油或润滑油样品金属离子)快速定性或半定量分析。
5. 各种电子产品、玩具或家具的RoHS指令有害元素分析。
6. 材料元素组成高精度比对分析(尤其适用于处理前后比对分析)以及类似材料鉴别元素组成指纹比对分析。
7. 难熔(难溶)固体样品,典型如玻璃材料、激光晶体材料、陶瓷材料、高温烧结材料、耐蚀合金材料等直接固体进样分析。


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