仪器介绍

该仪器是FEI公司开发的多功能、多用户环境的200 kV场发射透射电子显微镜。该仪器配备了STEM、EDX、HAADF、CMOS等附件，能采集TEM明场像，高分辨像，STEM-HADDF暗场像，选区电子衍射图像。可以做EDX微区能谱分析以及元素的点、线、面分布(mapping)图。

技术指标：

加速电压：200 kV

放大倍数：25 ~ 1050K

点分辨率：0.24 nm

信息分辨率：0.14 nm

STEM分辨率：0.2 nm

样品倾斜角度：< ±30°

X射线能谱仪元素分析范围：5B ~ 92U

X射线能谱仪能量分辨率：136 eV

应用范围

该仪器可用于研究材料的微观形貌、颗粒尺寸、晶体结构、晶体缺陷、界面及晶界结构、微区组成、元素分布。广泛应用于高分子材料、生物医用复合材料、无机纳米材料、金属及半导体等材料的电子显微学研究。