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    TECNAI F20 场发射透射电子显微镜
    联系人： 周云春
    联系电话： 0431-85262171
    邮箱： yczhou@ciac.ac.cn
    职称： 副研究员
    专业：
    学历： 博士
    从业时间： 从事透射电子显微学相关工作20年
    仪器介绍

    200kV场发射透射电子显微镜，配备了STEM、EDX、HADDF等附件，能采集TEM明场、暗场像和高分辨像、stem图像，进行选区电子衍射、EDX能谱分析，结合STEM实现微区元素的线分布和面分布。

    应用范围

    固体材料微区形貌和结构分析

    电子衍射图像分析

    高分辨图像分析

    EDX能谱分析（点、线、面）


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