仪器介绍

生产制造商：美国Agilent

垂直炬管双向观测系统，Vista Chip III CCD检测器。光谱覆盖范围： 167 nm~785 nm，一次曝光即可获取全谱信息。线性范围可达106，元素检出限为 0.X - 10 µg/L （不同元素灵敏度有差别）。内置IntelliQuant功能，可对样品中所有元素进行半定量“全景扫描”。

应用范围

1. 各种无机纳米粒子、PM2.5、有机/无机或复合催化剂成分、无机萃取分离中间液、各种无机材料浸提/释放液等金属离子分析

2. 有机组分中的典型非金属元素如硫、磷、碘等的高灵敏测试

3. 新能源领域如磷酸铁锂、石墨正极材料及各种电解液组成成分分析

4. 各种无机金属材料、电子材料、通讯材料、航空航天材料主次金属成分分析

5. 环境水样中的无机离子、工业废水有害元素、土壤或矿石的主次成分定量分析

6. 含氢氟酸或需氢氟酸溶样的特殊样品分析，比如玻璃、石英、铌、锆、铪等材料分析

7. 结合超级微波样品消解，可实现各种特种陶瓷材料、建筑材料、高温金属材料、特种工程塑料等难溶样品中的主微量元素分析